ਖੋਜ ਅਤੇ ਵਿਕਾਸ

ਗਲੌਸ ਇੱਕ ਭੌਤਿਕ ਮਾਤਰਾ ਹੈ ਜੋ ਕਿ ਇੱਕ ਭੌਤਿਕ ਸਤਹ ਦੀ ਜਿਓਮੈਟ੍ਰਿਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਪਰਿਭਾਸ਼ਿਤ ਸਥਿਤੀਆਂ ਦੇ ਸਮੂਹ ਦੇ ਅਧੀਨ ਪ੍ਰਕਾਸ਼ ਨੂੰ ਪ੍ਰਤੀਬਿੰਬਤ ਕਰਨ ਦੀ ਯੋਗਤਾ ਦਾ ਮੁਲਾਂਕਣ ਕਰਦੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਇਸ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਦਿਸ਼ਾ-ਚੋਣਵੀਂ ਪ੍ਰਤੀਬਿੰਬਤ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਹੁੰਦੀ ਹੈ।

ਪ੍ਰਤੀਬਿੰਬਿਤ ਚਿੱਤਰ ਦੀ ਤਿੱਖਾਪਨ ਪ੍ਰਤੀਬਿੰਬ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਇੱਕ ਚਿੱਤਰ ਵਿੱਚ ਵੇਰਵਿਆਂ ਅਤੇ ਸੀਮਾਵਾਂ ਦੀ ਸਪਸ਼ਟਤਾ ਦੀ ਡਿਗਰੀ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦੀ ਹੈ।

ਜਦੋਂ ਸਟਾਈਲਸ ਮਾਪੇ ਜਾ ਰਹੇ ਵਰਕਪੀਸ ਦੀ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਹਲਕਾ ਜਿਹਾ ਗਲਾਈਡ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਤਾਂ ਸਟਾਈਲਸ ਸਤਹ ਕੰਟੋਰ ਦੇ ਅਨਡੂਲੇਸ਼ਨ ਦੇ ਕਾਰਨ ਸਤਹ ਕੰਟੋਰ ਦੇ ਲੰਬਵਤ ਦਿਸ਼ਾ ਵਿੱਚ ਉੱਪਰ ਅਤੇ ਹੇਠਾਂ ਚਲੇਗਾ। ਇਸ ਗਤੀ ਨੂੰ ਇੱਕ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਡਿਵਾਈਸ ਦੁਆਰਾ ਵਧਾਇਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਫਿਰ ਸੰਬੰਧਿਤ ਖੁਰਦਰਾਪਨ ਡੇਟਾ ਜਾਂ ਗ੍ਰਾਫਿਕਸ ਇੱਕ ਜ਼ੀਰੋ ਇੰਡੀਕੇਟਰ ਜਾਂ ਹੋਰ ਆਉਟਪੁੱਟ ਡਿਵਾਈਸ ਦੁਆਰਾ ਆਉਟਪੁੱਟ ਕੀਤੇ ਜਾਂਦੇ ਹਨ।

ਇਹ ਯੰਤਰ ਆਧੁਨਿਕ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ ਤਿਆਰ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ ਅਤੇ ਇਸ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਉੱਨਤ ਸਮਰਪਿਤ CMOS ਡਿਜੀਟਲ ਕੈਮਰਾ, ਇੱਕ ਉੱਚ-ਰੈਜ਼ੋਲਿਊਸ਼ਨ ਜ਼ੂਮ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ, ਅਤੇ ਇੱਕ ਉੱਚ-ਚਮਕ ਵਾਲਾ LED ਬੈਕਲਾਈਟ ਸਿਸਟਮ ਸ਼ਾਮਲ ਹੈ। ਇਹ ਇੱਕ ਤਿੰਨ-ਅਯਾਮੀ ਨਮੂਨਾ ਪੜਾਅ ਨਾਲ ਲੈਸ ਹੈ, ਜੋ ਲੰਬਕਾਰੀ, ਖਿਤਿਜੀ, ਅਤੇ ਅੱਗੇ/ਪਿੱਛੇ ਗਤੀ ਦੀ ਆਗਿਆ ਦਿੰਦਾ ਹੈ। ਇਹ ਮਾਈਕ੍ਰੋ-ਨਮੂਨਾ ਇੰਜੈਕਸ਼ਨ ਅਤੇ ਸਟੀਕ ਲੰਬਕਾਰੀ ਅਤੇ ਖਿਤਿਜੀ ਗਤੀ ਨੂੰ ਸਮਰੱਥ ਬਣਾਉਂਦਾ ਹੈ।

ਸੰਚਾਰ: ਘਟਨਾ ਸਤ੍ਹਾ ਤੋਂ ਦੂਜੇ ਪਾਸੇ ਘਟਨਾ ਪ੍ਰਕਾਸ਼ ਦੇ ਪ੍ਰਵਾਹ ਦੀ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦੌਰਾਨ ਕਿਸੇ ਵਸਤੂ ਉੱਤੇ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਿਤ ਅਤੇ ਪ੍ਰਸਾਰਿਤ ਕੀਤੀ ਗਈ ਪ੍ਰਕਾਸ਼ ਊਰਜਾ ਦਾ ਵਸਤੂ ਉੱਤੇ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਿਤ ਕੁੱਲ ਪ੍ਰਕਾਸ਼ ਊਰਜਾ ਨਾਲ ਅਨੁਪਾਤ ਨੂੰ ਉਸ ਵਸਤੂ ਦਾ ਸੰਚਾਰ ਕਿਹਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ।
ਧੁੰਦ ਮੀਟਰ: ਮੁੱਖ ਤੌਰ 'ਤੇ ਸ਼ੀਸ਼ੇ ਦੇ ਆਪਟੀਕਲ ਗੁਣਾਂ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਲਈ ਵਰਤਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ।

ਟੈਸਟਰ ਅਤੇ ਸ਼ੀਸ਼ੇ ਵਿਚਕਾਰ ਸਾਪੇਖਿਕ ਗਤੀ ਵਿੱਚ ਰੁਕਾਵਟ ਪਾਉਣ ਵਾਲੀ ਘਟਨਾ ਨੂੰ "ਗਤੀਗਤ ਘ੍ਰਿਸ਼ਣ" ਕਿਹਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ।